光(guang)伏(fu)組件(jian)IV曲(qu)線(xian)測試(shi)儀

壹、光(guang)伏(fu)組件(jian)IV曲(qu)線(xian)測試(shi)儀產(chan)品(pin)簡介(jie)

光(guang)伏(fu)組件(jian)IV曲(qu)線(xian)測試(shi)儀又(you)稱便(bian)攜(xie)式(shi)IV測(ce)試(shi)儀，便(bian)攜(xie)式(shi)太(tai)陽(yang)能(neng)電(dian)池(chi)測(ce)試(shi)儀，光(guang)伏(fu)板便(bian)捷(jie)式iv曲(qu)線(xian)測試(shi)儀主要用(yong)於光(guang)伏(fu)電站(zhan)太陽(yang)能(neng)板及(ji)其組(zu)件，組串的(de)發電(dian)量進行(xing)評估(gu)，可為太(tai)陽能(neng)電(dian)站(zhan)設(she)計、驗收(shou)、維(wei)護(hu)提(ti)供測試(shi)保(bao)障(zhang)，適(shi)應光(guang)伏(fu)電池(chi)戶(hu)外性能(neng)測(ce)試(shi)。

   產(chan)品(pin)為光(guang)伏(fu)組件(jian)IV曲(qu)線(xian)測試(shi)儀，可(ke)精準(zhun)檢(jian)測(ce)1500V範圍內(nei)的(de)組件(jian)與組串(chuan)的(de)發電(dian)效(xiao)率與轉(zhuan)化(hua)率。能(neng)夠(gou)快(kuai)速(su)檢(jian)測(ce)光(guang)伏(fu)組串(chuan)在自(zi)然(ran)光(guang)照(zhao)下(xia)的(de)⼯作(zuo)特(te)征，設(she)備操(cao)作(zuo)簡(jian)單，攜(xie)帶(dai)⽅便(bian)，且配(pei)備(bei)⾼精度(du)輻照(zhao)計與溫(wen)度(du)傳感器，可提(ti)供準確(que)的(de)現場輻(fu)照(zhao)數(shu)值與環境(jing)溫(wen)度(du)等(deng)參(can)數(shu)。

便攜(xie)式(shi)IV測(ce)試(shi)儀采⽤⼀體(ti)式封(feng)裝(zhuang)技(ji)術，操(cao)作(zuo)界(jie)⾯功能(neng)說(shuo)明(ming)清晰，⼀鍵(jian)式檢(jian)測(ce)數(shu)據導出(chu)，單塊(kuai)組件(jian)/組串檢(jian)測(ce)速(su)度(du)10秒(miao)完(wan)成(cheng)，快(kuai)速(su)精準全(quan)⾯的(de)檢(jian)測(ce)功(gong)能(neng)可(ke)作(zuo)為(wei)第(di)三(san)⽅檢(jian)測(ce)機(ji)構(gou)與電站(zhan)運(yun)維(wei)的(de)⾸選配(pei)置(zhi)。整機(ji)配(pei)備更為(wei)⾼精(jing)度(du)的(de)電容(rong)/電(dian)阻(zu)式負(fu)載，同時(shi)配(pei)備了更為(wei)快(kuai)速(su)的(de)輻照(zhao)計操作(zuo)模(mo)塊(kuai)以(yi)及(ji)對(dui)應的(de)IV曲(qu)線(xian)分析軟件(jian)，可(ke)以(yi)更⾼清的(de)解析IV曲(qu)線(xian)的(de)同時(shi)具(ju)備持(chi)續IV不間(jian)斷掃(sao)描(miao)的(de)優勢(shi)，助(zhu)⼒光(guang)伏(fu)全(quan)體(ti)系(xi)電站(zhan)的(de)檢(jian)測(ce)。

二(er)、光(guang)伏(fu)組件(jian)IV曲(qu)線(xian)測試(shi)儀產(chan)品(pin)信(xin)息(xi)

1、應⽤領(ling)域(yu)

1）單組(zu)件(jian)測(ce)試、組串測(ce)試(shi)、輻(fu)照(zhao)測(ce)試、發電量測試(shi)

2、可(ke)測(ce)試(shi)性(xing)能(neng)指(zhi)標(biao)

陰(yin)影遮(zhe)擋(dang)、灰(hui)塵(chen)衰減(jian)、STC對(dui)⽐、填(tian)充因(yin)⼦、IV曲(qu)線(xian)、最(zui)⼤功率、最(zui)⼤功率電(dian)壓、最(zui)⼤功率電(dian)流(liu)、輻(fu)照(zhao)度(du)、環境(jing)溫(wen)度(du)、組件溫(wen)度(du)、PV曲(qu)線(xian)、轉(zhuan)換效(xiao)率、發(fa)電量

三、產(chan)品(pin)優勢(shi)

1、10～1500V⾼精(jing)度(du)曲(qu)線(xian)測試(shi)

采⽤我(wo)司新(xin)的(de)電阻(zu)式(shi)測(ce)試模(mo)塊(kuai)，單組(zu)件(jian)檢(jian)測(ce)更為(wei)精(jing)準，可最(zui)⼤測試1500V組(zu)串(chuan)的(de)IV曲(qu)線(xian)測試(shi)，以(yi)及(ji)30A組(zu)串的(de)串並(bing)聯(lian)測(ce)試。

2、STC標(biao)稱(cheng)參(can)數(shu)轉(zhuan)化(hua)測(ce)試

IV測試，匹(pi)配(pei)當(dang)前95%以(yi)上(shang)光(guang)伏(fu)電池(chi)板規(gui)格(ge)，更快(kuai)速(su)的(de)切換不同規格組件(jian)參(can)數(shu)，並⾃動(dong)計算(suan)出電(dian)池(chi)板當(dang)前發(fa)電效率以(yi)及(ji)轉(zhuan)化(hua)率，幫助(zhu)⽤戶(hu)更精(jing)準(zhun)的(de)知(zhi)悉(xi)組件真(zhen)實(shi)參(can)數(shu)。

3、組串(chuan)測試

光(guang)伏(fu)電站(zhan)組串(chuan)測試(shi)可(ke)快(kuai)速(su)測試出(chu)光(guang)伏(fu)整串(chuan)的(de)發電(dian)效(xiao)率，短(duan)路(lu)，發(fa)電量等(deng)，並(bing)快(kuai)速(su)篩選不同組串之間(jian)的(de)電性(xing)能(neng)。

4、單組(zu)件(jian)測(ce)試

便攜(xie)式(shi)IV曲(qu)線(xian)測試(shi)儀具(ju)備獨(du)特(te)的(de)組件(jian)發(fa)電(dian)量測試(shi)功(gong)能(neng)，能(neng)夠(gou)適(shi)應⽬前歐(ou)美采⽤的(de)IEC61853規定(ding)的(de)組件(jian)鑒(jian)定(ding)測試(shi)，或⽤於(yu)當地⽇照(zhao)資源(yuan)檢(jian)測(ce)。

測(ce)試(shi)儀提(ti)供⾼達400點的(de)⾼分辨(bian)率測(ce)試模(mo)式(shi)及(ji)符合Modbus/tcp協(xie)議的(de)以(yi)太(tai)⽹監視功能(neng)，適(shi)應科學(xue)研究需求(qiu)。

5、國標(biao)⾏業(ye)基(ji)準

設(she)備符合國際(ji)與⾏業(ye)執(zhi)⾏標準，並可(ke)作(zuo)為(wei)第(di)三(san)⽅計量依據(ju)。

◎IEC 61215-2005 地⾯⽤晶體(ti)矽(gui)光(guang)伏(fu)組件(jian)—設(she)計鑒(jian)定(ding)與定(ding)型(xing)

◎IEC 61646-2008 地⾯⽤薄(bo)膜電池(chi)設(she)計與鑒(jian)定(ding)規範

◎CGC/GF003.1:2009 並⽹光(guang)伏(fu)發電(dian)系(xi)統⼯程(cheng)驗收(shou)技術規(gui)範第1部(bu)分：電⽓設(she)備

◎GB4793.1-2007/IEC 60010-1 測(ce)試、控制和實(shi)驗室(shi)⽤電⽓設(she)備的(de)安全(quan)要(yao)求(qiu)

◎IEC60904-2 2007 標(biao)準(zhun)太(tai)陽電(dian)池的(de)要求(qiu)

◎IEC60891-2009 光(guang)伏(fu)器件的(de)IV實(shi)測(ce)特(te)性的(de)溫(wen)度(du)和輻照(zhao)度(du)修正(zheng)⽅法

6、連續(xu)性(xing)測試

可(ke)連續(xu)性(xing)測試光(guang)伏(fu)電池(chi)IV數(shu)據，20s⼀次(ci)的(de)⾃動(dong)檢(jian)測(ce)，可(ke)幫助(zhu)⽤戶(hu)持(chi)續性(xing)監控組件各性能(neng)參(can)數(shu)並進(jin)⾏對(dui)⽐。

7、iV補償(chang)功能(neng)

⽀持(chi)光(guang)伏(fu)電池(chi)⽚的(de)戶(hu)外驗證，適(shi)應⼯程(cheng)化(hua)應⽤的(de)實(shi)驗階段光(guang)伏(fu)電池(chi)戶(hu)外性能(neng)測(ce)試(shi)。

8、環境(jing)監測功能(neng)

具(ju)備環境(jing)溫(wen)度(du)檢(jian)測(ce)、電(dian)池(chi)板溫(wen)度(du)檢(jian)測(ce)、太(tai)陽(yang)輻照(zhao)度(du)檢(jian)測(ce)等(deng)環境(jing)檢(jian)測(ce)功(gong)能(neng)，並(bing)可(ke)提(ti)供⽤戶(hu)可選的(de)輻照(zhao)計匹配(pei)。

9、持(chi)久續(xu)航

提供內(nei)置(zhi)了(le)⾼容量鋰(li)電池(chi)模(mo)組(zu)鋰(li)電模(mo)組(zu)，可(ke)備選更換便(bian)捷，長達8H持(chi)續續(xu)航為測(ce)試提(ti)供充⾜電(dian)⼒。

10、量程切換

針(zhen)對(dui)不同規格的(de)組件(jian)/組(zu)串(chuan)的(de)電流(liu)電(dian)壓，可⾃動(dong)切換測(ce)試量程，以(yi)提(ti)供更為(wei)精(jing)準的(de)測試(shi)範圍，並(bing)提供過壓(ya)過流(liu)保(bao)護。

11、⾼擴容(rong)

內(nei)機(ji)可(ke)靠儲存超過2000幅(fu)測試(shi)波(bo)形(xing)，並(bing)提(ti)供SD卡(ka)插槽，⽀持(chi)存儲空間(jian)擴(kuo)容(rong)，可(ke)通過USB同(tong)步主機(ji)儲(chu)存數(shu)據⾄PC端軟(ruan)件分析。

12、光(guang)伏(fu)組件(jian)修正(zheng)數(shu)據庫(ku)

內(nei)置(zhi)豐(feng)富(fu)的(de)太陽(yang)能(neng)電(dian)池(chi)組(zu)件(jian)修正(zheng)模(mo)型(xing)數(shu)據庫(ku)，覆蓋⼤多數(shu)組件(jian)⽣產商的(de)產品(pin)，為測(ce)試(shi)結(jie)果的(de)轉(zhuan)化(hua)⽐提(ti)供參(can)考(kao)並為⽤戶(hu)提供了全(quan)⾯的(de)參(can)數(shu)設(she)置功(gong)能(neng)可(ke)⼿動(dong)添(tian)加。

13、⾼壓隔(ge)離(li)設(she)計更安全(quan)

設(she)備內(nei)部(bu)具(ju)備⾼壓隔(ge)壁(bi)電源(yuan)設(she)計，為⽤戶(hu)提供可靠(kao)的(de)安全(quan)保(bao)證，開路(lu)電(dian)壓最(zui)⼤測試範圍可(ke)到1500V，提(ti)供⾼達30KW光(guang)伏(fu)陣(zhen)列(lie)測試(shi)功能(neng)。

14、觸(chu)屏⾯板操(cao)作(zuo)

主機(ji)操(cao)作(zuo)⾯板采⽤觸(chu)屏加鍵(jian)盤(pan)的(de)操作(zuo)⽅式(shi)，⾼亮(liang)的(de)液晶屏(ping)幕(mu)可在陽光(guang)下(xia)顯⽰更為(wei)清晰，整(zheng)機(ji)包含(han)豐(feng)富(fu)的(de)外設(she)接⼜提(ti)供多種(zhong)拓(tuo)展(zhan)聯機(ji)功(gong)能(neng)。

四、主機(ji)參(can)數(shu)

1、整體(ti)參(can)數(shu)

2、規格(ge)參(can)數(shu)

3、硬件(jian)參(can)數(shu)

五、主輻照(zhao)計參(can)數(shu)

六、配(pei)件清單